製造元：ユニオプト（株）
ABR-100は,複屈折とその方位を高精度に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になるばかりでなく,様々な応用測定が実現できます.試料ステージを操作することで,2次元複屈折（分布）の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ス テージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は,2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます.
特徴
◾高感度・高速測定 光ヘテロダイン計測法の採用 0.1 sec. / point
◾高精度・高再現性 試料を静止させた状態で測定 分解能 0.01 nm
◾簡単操作 メニューとマウスによる簡単な操作,明るい場所で作業できます.
◾大型化可能 サンプルの大型化にも対応可能
◾ライン組込可能 サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能
アプリケーション
◾液晶ディスプレイ ： 位相差フィルム，ラビング膜など
◾強誘電（反強誘電）液晶の配向特性評価
◾光磁気ディスク用基板
◾DVD,CD等のピックアップ光学部品 ： 偏光ビームスプリッター等
◾レンズ・プリズム等 光学ガラスの歪測定
◾光学材料の高精度光弾性定数測定
◾高分子材料の研究 （薄膜,レンズ等の光学素子など）
性能
| 測定項目 | リターデーション | 進相軸方位角 | 被測定試料 | |
| Re | δ | φ | ||
| 測定範囲* | 0 – 260 nm | 0 – 150 deg. | ± 90 deg. | |
| 分解能 | 0.01 nm | 0.006 deg. | 0.1 deg. | |
| 繰り返し精度** | ± 0.03 nm | ± 0.018 deg. | – | Re = 0 nm |
| ± 0.1 nm | ± 0.06 deg. | ± 0.5 deg. | 1/4波長サンプル | |
| 測定時間 | 約 0.1 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定) | |||
| *). オプションにて,0 – 180 deg.まで対応可. 分解能 (150 – 180 deg.)：± 0.1 deg. | ||||
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**). 上欄は,空気層（Re = 0 nm）のサンプルによる測定結果（3σ）であり,下欄が,1/4波長板（Re≒158.3 nm水晶製）のサンプルによる測定結果（3σ）です
 ABR-100 |
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