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光計測製品一覧

レーザ距離計測

レーザ測距計。レーザーパルスを投光し受光するまでの時間を計測するTOF方式。レーザ光を一定の周波数で強度変調させ照射し、照射した参照光と反射光との位相差から距離を求める位相計測方式。

スキャナデバイス検査

■ポリゴンミラー総合計測システムポリゴンミラーの性能評価装置。面倒れ、面分割、反射率

MEMSスキャナ検査

■光MEMSスキャナ検査システム光MEMSデバイス単体の性能評価装置、振り角、共振周波数、ジッタ、ウォブル

配光テスタ一覧

STB-209XL2 キセノンとLEDの両発光を観測 9点式-配光テスタ STB-209X 9点の受光部でストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定 25点式-LED配光テスタ STB-225LD 25点の受光部でLEDストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定

ストロボ光量計一覧

ライン向け光量計 LXP-22T2 LX-25の廉価版サンプリング式-光量計 LX-60 発光光量など7項目を測定積分式-光量計 LX-25 発光光量など5項目を測定

シャッターテスタ　レンズシャッター一覧

AS-50T レンズシャッター単体の動作時間を測定 AS-251T シャッターの動作時間信号から動作までのタイムラグ有効露出時間絞り値誤差などを測定

シャッターテスタ　反射光型一覧

7FR-85DL 3点又は5点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・X　遅延などを測定 7FR-80D 3点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定 7FR-809D 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定

シャッターテスタ　透過光型一覧

7FDC-500 シャタースピード1/8000秒まで正確に測定 7FDC-3000 上中下、及び左中右のスタート時間差を測定

絞り面積光量比測定器一覧

SMD-81T2 カメラ及び交換レンズの基準絞り口径に対する差[EV]を測定 SMD-251 絞りの時間的変化量を測定

焦点距離誤差測定器一覧

FD-15SF レンズのピント誤差測定 FD-30N レンズの基準焦点位置との差を測定数値化―校正調整に最適 FD-80N レンズの基準焦点位置との差を測定数値化―校正調整に最適 FD-1600N レンズの基準焦点位置との差を測定数値化―校正調整に最適

レンズ系測定器一覧

像面光量落ち測定 KK-2T レンズの比像面照度（像面光量落ち）を測定 SMD-251 絞りの時間的変化量を測定球面収差測定器 LSA-2 レンズの球面収差を自動測定するベイリンググレア指数測定 LFM-1 Φ1000mm積分球を用いてレンズフレア率を測定 LDF-3 レンズ偏芯のズレ量、中心焦点位置を自動測定 KO-400 一眼レフ用レンズ絞りレバーの動特性を自動測定

レンズシャッター　AS-251T

シャッターの動作時間信号から動作までのタイムラグ有効露出時間絞り値誤差などを測定被測定物はデジタルカメラ本体シャッター単体測定範囲はFNo.で11ステップ、F1.4からF45までを1絞り単位で可変 PCにて簡単に設定制御データ取得が可

レンズシャッター　AS-50T

レンズシャッター単体の動作時間を測定測定可能絞り口径Φ1～10mm 測定口径に応じて8段の感度切替機能測定結果をPCで管理が可能

シャッターテスタ　反射光型　7FR-809D

高性能な反射型シャッターテスター 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定レーザー光の反射を利用した計測システムなので完成品デジタルカメラでの測定が可能上中下、及び左中右のスタート時間差を測定シャタースピード1/8000秒まで正確に測定オート感度調整ＰＣにて簡単に設定・制御・データ取得が可能

シャッターテスタ　反射光型　7FR-80D

高性能な反射型シャッター試験機 3点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定レーザー光の反射を利用した計測システムなので完成品デジタルカメラでの測定が可能上中下のスタート時間差を測定シャタースピード1/8000秒まで正確に測定ＰＣにて簡単に設定・制御・データ取得が可能

シャッターテスタ　反射光型　7FR-85DL

高性能な反射型シャッターテスター 3点又は5点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・X　遅延などを測定 LED光の反射を利用した計測システムなので完成品デジタルカメラでの測定が可能シャタースピード1/8000秒まで正確に測定ＰＣにて簡単に設定・制御・データ取得が可能

シャッターテスタ　透過光型　7FDC-3000

高性能な透過型シャッターテスター 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X 遅延などを測定上中下、及び左中右のスタート時間差を測定シャタースピード1/8000秒まで正確に測定測定結果をPCで管理が可能

シャッターテスタ　透過光型　7FDC-500

高性能な透過型シャッターテスター 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X 遅延などを測定シャタースピード1/8000秒まで正確に測定測定結果をPCで管理が可能

配光テスタ　LED25点式　STB-225LD

25点の受光部でLEDストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定央部GNを基準として、周囲24点の光量分布を⊿EV又は%で表示受光部は半円状に配列(5°7.5°) 測定距離は0.5m オプションにてワークを自動回転して球状のデータを取得可能 PCにて簡単に設定表示データ処理

配光テスタ　9点式　STB-209X

9点の受光部でストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定受光部はマグネット吸着式で脱着が簡単発光時間や最大照度も測定 PCにて簡単に設定表示データ処理

配光テスタ　STB-209XL2

キセノンとLEDの両発光を観測 9点の発光量の差を測定発光時間やピークの光量を測定 PCソフトウェアにてデータ管理 CSVファイルで保存可能

ストロボ光量計　積分式-光量計　LX-25

発光光量など5項目を測定発光をコンデンサに溜め込み測定（積分方式）キセノン、ＬＥＤフラッシュ、点滅灯、誘導灯の管理、測定に最適発光終了までの光量を積算して表示小容量大容量ストロボはオプションの受光部に切り替えることで測定可能外部通信に対応しているので遠隔操作が可能

ストロボ光量計　サンプリング式-光量計　LX-60

発光光量など7項目を測定発光を波で取り込み（サンプリング波形解析方式）キセノンフラッシュ、点滅灯、誘導灯の管理、測定に最適 LX-25の測定項目に加え「最大照度」「発光時間」を測定可変可能な測定時間(1～90ms) オプションの受光部でLEDストロボにも対応(LX-60LD) 切替作業なしで低輝度から高輝度まで幅広く測定(AUTO　MODE)

ストロボ光量計　ライン向け　LXP-22T2

LX-25の廉価版閃光をLux・secで測定表示 PC接続でGNなども測定発光量を蓄積回路に溜め込み測定表示（積分方式）オプションの受光部に切り替えることで低高照度に対応

輝度計・ＬＶチェッカ

輝度面に押し当てるだけで手軽に簡単に輝度測定コンパクトなハンディー型であらゆる場面で活躍データホールド機能で測定したい瞬間を逃さないバックライトで暗い場所での測定も可能蛍光体などの低輝度発光にも対応 8 [mcd/㎡]から測定高輝度 73370 [cd/㎡]まで測定測定結果をPCで管理任意の基準輝度への補正機能付き

光切断機（Z軸測定機）

光切断方式による非接触Z軸測定機です。膜厚測定、バリ・カエリの測定、シール剤測定表面粗さ検査、金型測定、ガラス間隙測定等々、さまざまな用途に対応できます。

表裏両面観察鏡

特徴 1.同一部分の表裏面の像が光学系の切換によって交互に観察できます。 2.ズームステレオ顕微鏡を装着しますので、立体的な観察と、視野の広い低倍率から正確な観察検査のできる高倍率までスムーズに変えられます。 3.デジタルカメラをマウントして使える仕様もございます。 4.表裏面の像を同時観察し、マークの位置合わせや位置ズレ量の測定を目的とした特注ユニットの製作も可能です。

3眼同軸ズームステレオ顕微鏡

ハロゲン照明によるファイバー同軸照明とリング状の落射照明を組み合わせた、明視野観察と暗視野観察の切り換えが瞬時にできます。観察物の反射性の強弱による変化に対し、有効な照明の選択が可能です。 1. ３眼鏡筒部にTVカメラやデジタルカメラの装着ができます。 2. 双眼実体顕微鏡であり立体的な観察ができます。

２方向観察角度測定顕微鏡

小径ドリルの先端が規格通りに正しく研磨されているか否かを、ドリルの先端と側面を２方向から拡大して同時に見ることができ、目視検査及び先端の角度測定できる光学測定機です。

狭い領域の１０ｍｍから４０ｍｍの範囲で視野の位置が自由に換えられ、しかも、ピントのズレと作動距離が全く変わらないシステムです。頻繁に視野の距離を変える製品の生産時には、視野位置を換えるツマミの僅かな回転だけで済み、作業性が大変向上します。 1. 　カラーＴＶ専用ユニットです。 2. 　完全防塵タイプで、光学系を外部からの汚れから完全に防げます。 3. 　視野の移動にモータードライブが付けられ、生産効率が格段に向上できます。

２重焦点鏡

上下（前後）に離れた２点間のマークに個別のピント合わせができ、あたかも同一面にあるように観察できる光学ユニットです。２点間が接近しているもの、離れているものでも、ご要望に応じて製作できます。デジタルマイクロメーター利用によるＸＹ軸測定・ワーク上下両面の観察機能の組み込み等、さまざまな応用が利用できます。

ＡＦ・ミクロン深さ高さ測定機

特徴１．光切断によるスリット像観察とスポット光像によるＡＦ（オートフォーカス）追従を組み合わせた新しいタイプの深さ高さ測定機です。２．連続追従ＡＦ駆動で繰り返し精度の高い測定が操作性良くスピーディーにできます。３．スリット像が映し出す段差形状を観察しながら測定する方式なので、測定画面上の高低をリアルタイムで認識でき、測定が必要な箇所を容易に判断できます。４．測定点でスリット像・スポット光像・電子ライン基準線の中心がすべて一致する測定システムで、そのズレのチェックにより誤った数値での測定を防止することができます。５．光切断の仰角は標準の９０°の他３０°６０°１２０°と用途に応じて選択導入できます。

オープンスペース型光エンコーダ(ORE-OS-□□□）

本光エンコーダは,当社のエンクローズ型のものの内部を構造体だけを取り出して製品化したもので,スケール板(目盛板）を設備や回転体のシャフトに取り付けることにより,Ａ,Ｂ,Ｚ相を取り出すことが出来ます.又,外乱ノイズの影響を無くす為にモジュレーション方式ではなく,純光学的にノイズを除去する方式を用いている為, 100kHZ程度までカウントミスする事は有りません.（標準10kHZ）

光ファイバ式ロータリーエンコーダ(ORE20-□□□)

このエンコーダは,エンコーダ部に全く電気を使用していないので,完全防爆仕様になっております.高電圧・高エネルギー・高磁場等の影響もありませんので,厳しく劣悪な環境にて使用することができます.また,光ファイバは石英ファイバを使用しているため長い距離でのひきまわしも可能です.電気的に信号を送っていないので,ラインドライバ等のデバイスを必要とせず,ノイズが乗ることもなく２００ｍ程度まで信号伝送することが出来ます.

光ファイバ式ロータリーエンコーダ(ORE55-□□□)

このエンコーダは,エンコーダ部に全く電気を使用していないので,完全防爆仕様になっております. 高電圧・高エネルギー・高磁場等の影響もありませんので,厳しく劣悪な環境にて使用することができます.また,光ファイバは石英ファイバを使用しているため長い距離でのひきまわしも可能です.

光ファイバ式ロータリーエンコーダ(ORE110-□□□）

本品は,光通信方式のエンコーダです.本体には光通信ケーブルより供給される光信号だけなので,原理的に完全防爆であり,高ノイズ・強磁場・高放射線にも強いものになっています.又,長距離の信号伝送でも途中でノイズを拾うこともありません.

コアピッチ測定機（OSPM－０９）

本品は,ファイバアレイ,Ｖ溝基板,ＭＴコネクタ用に設計製作された測定機で,高精度ＣＣＤカメラにより端面画像を取り込み画像処理することにより,ピッチ分だけ送った微動台の送り量との差を計算してコアピッチを測定する装置です. 当社開発の光干渉型測長ユニットを搭載することにより,最小にて0.01μmを表示して0.08μm精度〔A仕様〕を確保しております.（0.15μm精度〔B仕様もあり〕）この精度を実現するために,ステージ・構造部材およびすべての精度部材をインバーにて構成しております.

耐放射線用レーザマイクロゲージ

強い放射線下で使用される測定器は,それに使用されている材料,電子部品等が放射線に侵されて長時間の性能維持が困難です.レーザマイクロゲージも同様ですが, 放射線に強い光学部品（レンズ,ミラー等）の開発,電子部品及び校正材料の選択により,耐放射線用レーザマイクロゲージを開発しました.本機の出現により高線量下測定での放射線遮蔽容器等の使用はほとんど必要がなくなりました.

大型物測定用レーザマイクロゲージ

レーザマイクロゲージのセンサーユニットを複数個使用してユニット間の継ぎ目を無くするように配列し,継ぎ目が測定に影響しないように信号処理をした画期的な装置です. この装置は走行中の測定物の外径を連続でリアルタイムに測定することができます. 測定範囲はユニットの数によって決まるので制限はありません.

２次元走査レーザマイクロゲージ

標準型のレーザマイクロゲージに回転または揺動式の新開発ミラー系を付加した測定器で, レーザー光走査面に垂直方向に走査面を平行に移動しながら測定します. センサー本体を移動することなく,固定した状態でパイプ等の軸方向の場所による外径変化を手軽に高精度測定することが可能です.

高温物体測定用（加熱加工中の外径変化測定用）

バーナーで高温加熱中のファイバーガラス等の外径変化を安定して管理する事ができます. 加工装置側とのデータ受け渡しにも対応します.

従来モデル　LMG-PⅢ　LMG-MⅢ　毎秒1800回スキャン

少ないボタンでシンプルな操作測定箇所ごとに公差設定,判定も可能外部機器による通信制御でさらに機能アップ

外径測定専用モデル　LMG-D3　毎秒1800回スキャン

測定ワークの外径検査に低価格な外径測定器を導入したいユーザー様に. （平均値または移動平均値での測定が行えます）低価格でも公差判定の表示・出力や測定データの出力はＤ５・Ｄ７と同様です. 精度もＤ５シリーズと同仕様のセンサ部（１８００回モデル）を搭載しています.

多機能モデル　LMG-D5　毎秒1800回スキャン

１０種類のプリセットに上記組み合わせや表示間隔, 演算の設定等を登録して測定物による面倒な切替作業を簡略化する事が出来ます. さらに設定の組み合わせでローラーの外径,振れ測定,公差の判定等も行えます.

ＸＹ測定用一体型高速モデル　LMG-D7-XY　毎秒3600回スキャン

縦置き・横置き両対応で容易に設置可能.透明・不透明にかかわらず,金属・樹脂製のチューブやパイプから極細のファイバーワイヤまで高精度に測定

高速・高精度モデル　LMG-D7　毎秒3600回スキャン

当社従来機（ＬＭＧ３０５Ⅱ）と比較して２倍の測定回数（３６００回／秒）を高速安定制御回路で実現. 従来の１／２の測定時間で高精度測定が出来ます. 繰り返し精度も大幅に向上しました. 表示部・センサ部・接続ケーブル（４ｍ）のセット価格で６８万円～と高精度・低価格を実現.（定価：税別）.

全自動ローラー測定器　RSVシリーズ

特注制作について

東京光電子工業株式会社では,設計から製造まで一貫した自社開発を行なっております. 特殊な状況下での測定や,特殊なサイズの測定など,是非ご相談ください.

レーザーアブレーションシステム

製造元：オーケーラボ（有） ◆エキシマレーザーアブレーションシステム ◆ＵＶフェムト秒レーザーアブレーションシステム

パルスソーラーシュミレータ用分光放射計

■波長：250～1500nm（彩虹） ■波長：350～1300nm（OKL-HSSR1300） ■1msecのパルス光に対応 ■デモ機での測定可 ■全てOK Labのオリジナル設計・製造（特許申請中） ■赤外分光器も販売しております ■その他の波長域にも対応可能 ■定常光測定ももちろんＯＫ

CPM・PDS一体型測定装置

薄膜太陽電池材料の吸収係数測定に最適です. 一定光電流測定法(CPM:Constant photocurrent method)・光熱偏向分光法(PDS:Photothermal Deflection Spectroscopy)を使い,サブバンドギャップ(sub band gap) 光吸収係数(optical absorption coefficient)測定ができます. 欠陥密度(Defect density)の算出ができますので,太陽電池用薄膜の性能向上や開発に応用できます.

高精度測定型複屈折測定装置：ABR-100

ABR-100は,複屈折とその方位を高精度に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になるばかりでなく,様々な応用測定が実現できます.試料ステージを操作することで,2次元複屈折（分布）の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ステージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は,2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます

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